仪器型号: semishare X3等
1.样品要求
常规霍尔要求3 mm<长度<10 mm, 3 mm<宽度<10 mm, 0.1 mm<厚度<3 mm。
1、样品形态:必须是薄膜(做在基底上面的薄膜也可以,基底不能有导电性),薄片,或者粉末压片(自己压制成合适尺寸)(一般都是半导体材料)。如果是做在基底上面的薄膜,那么薄膜要稍微厚一点,薄膜的厚度需要自己确认好,包括纯薄膜的厚度以及薄片或者压片的厚度都要确认好,到时候测试时需要输入仪器进行计算的。
2、尺寸:8-11mm见方的圆片或者方片(最好是10mm见方的尺寸),导电层厚度在10-500nm之间最佳,整体厚度不超过2mm,样品需要均匀、平整,不能有孔洞、褶皱等缺陷;
粉末:提供3ml体积样品。
3、样品电阻不要超过200MΩ;当样品电阻超过100Ω时,需要制备金属电极,金属电极共四个,位于正四边形的四个顶角处,由实验室制作。
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